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首页 > 大仪器共享 > 设备详情 > 薄膜椭圆仪
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服务领域            




仪器设备基本信息
  • 设备名称:薄膜椭圆仪  
  • 仪器型号:43603-200E  
  • 所属单位:西安交通大学  
  • 设备原值:15.21 万元 
  • 制造厂商:美国RUDOLPH
  • 生产国别:
  • 购置日期:1985-1-1
  • 当前状态:服务中 
仪器设备详细指标
主要技术指标 起偏器和角偏器的方位角读数精度为:±0.02°;入射角精度为:0.02°;带有汞灯光源,可以测量汞灯光源下的椭偏谱。
功能/应用范围 材料表面光学性质的研究,多层薄膜结构的研究;膜厚的测量。
服务领域
技术特色  
服务情况及收费标准
对外服务(平均机时/年)
收费标准(元/样品)
联系方式
联系人 朱惠贤
联系电话 82668506  
传真 82668506  
电子邮件